日置 HIOKI日置 C测试仪3504-50
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技术参数
产品概述
日置 3504-50 电容测试仪,MLCC / 薄膜电容专用,支持定电压 CV 测试、高速测量、14 档 BIN 分选,适配产线分拣、来料检验、自动化测试系统集成。
核心技术规格
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 测量项目 | 电容 C (Cs/Cp)、损耗 D (tanδ) |
| 测量频率 | 120Hz、1kHz |
| 测试信号电平 | 500mV、1V rms(定电压 CV) |
| 电容测量范围 | 0.9400pF~20.0000mF |
| 损耗 D 测量范围 | 0.00001~1.99999 |
| 测量精度 C | ±0.09% 读数 ±10 字 |
| 测量精度 D | ±0.0016 |
| 测量速度 | 1kHz FAST:约 2.0ms1kHz SLOW:约 5.0ms120Hz:约 13ms |
| BIN 分选档位 | 14 档,PASS/WARNING/FAIL 判定 |
| 条件存储 | 99 组测量参数记忆 |
| 标配接口 | RS-232C、EXT.I/O 触发 / 比较器输出 |
| 可选接口 | GP-IB |
| 电源规格 | AC 100/120/220/240V ±10%,50/60Hz,最大 110VA |
| 外形尺寸 | 260×100×220 mm(宽 × 高 × 深) |
| 整机重量 | 约 3.8kg |
适用场景
多层陶瓷电容 MLCC、薄膜电容来料 IQC、产线高速分选、电容电压特性 CV 测试、自动化测试机柜集成。
产品核心优势
卓越的性能表现
采用最新一代数字信号处理技术,提供更高的采样率和带宽,确保测量结果的准确性和可靠性。先进的噪声抑制算法让您能够捕获更细微的信号细节。
先进的触发系统
支持多种触发模式,包括边沿触发、脉宽触发、斜率触发、视频触发等,满足各种复杂信号的捕获需求。
丰富的测量功能
内置超过30种自动测量功能,包括电压、时间、频率、相位等参数的一键测量,大大提高工作效率。
智能软件分析
配备专业的PC端分析软件,支持远程控制、数据采集和高级分析功能,方便进行数据后处理和报告生成。
人性化操作界面
10.1英寸高清电容触摸屏,配合直观的用户界面设计,让操作更加简单流畅,大幅提升使用体验。
广泛应用领域
消费电子
广泛应用于手机、平板电脑、智能穿戴设备等消费电子产品的研发、生产和质量检测,确保产品性能符合设计要求。
汽车电子
用于汽车电子控制系统、传感器、车载通信等领域的测试与验证,保障汽车电子系统的稳定性和安全性。
通信与物联网
支持无线通信模块、物联网设备、射频电路等的测试,确保通信质量和数据传输的可靠性。
教育与科研
是高校实验室、科研机构进行电子工程教学和科学研究的理想工具,帮助培养创新型工程技术人才。
航空航天与国防
满足航空航天和国防领域对高精度、高可靠性测试设备的严苛要求,保障关键系统的正常运行。
专业技术支持
我们提供的服务
- 免费安装调试:专业工程师上门安装、调试和操作培训
- 三年整机质保:非人为损坏免费维修或更换
- 终身维护服务:超过质保期仅收取成本费用
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